Difratômetro de Raios X D6 Phaser - Bruker
A difratometria de raios X é uma técnica analítica de alta tecnologia, rápida e não destrutiva, usada para a caracterização de materiais cristalinos. Fornece informações como estrutura, fases, orientações cristalinas preferenciais, e outros parâmetros estruturais como tamanho de grãos, cristalinidade, distorção e defeitos cristalinos. Os picos de difração de raios X são produzidos por meio da interferência construtiva de um feixe monocromático de raios X espalhados em ângulos específicos a partir de cada conjunto de planos cristalinos na amostra. As intensidades dos picos são determinadas pela distribuição dos átomos dentro do retículo cristalino. Dessa forma, os padrões de difração de raios X podem ser usados como uma espécie de “impressão digital” dos arranjos periódicos dos átomos em um dado material, possibilitando a identificação de amostras. É usada na análise de vários tipos de materiais em diversas áreas, incluindo metais, cerâmicas filmes finos, células solares, nanomateriais, semicondutores, polímeros, catalisadores, fármacos, minerais e mineração, cimentos, petroquímica, ciências forenses etc.
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